進(jìn)口優(yōu)質(zhì)hitachi日立環(huán)境型原子力顯微鏡一款環(huán)境型原子力顯微鏡，它的環(huán)境控制單元可以使樣品在大氣中、真空中、溶液中等環(huán)境中進(jìn)行測量
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進(jìn)口優(yōu)質(zhì)hitachi日立環(huán)境型原子力顯微鏡
進(jìn)口優(yōu)質(zhì)hitachi日立環(huán)境型原子力顯微鏡
AFM5300E是一款環(huán)境型原子力顯微鏡，它的環(huán)境控制單元可以使樣品在大氣中、真空中、溶液中等環(huán)境中進(jìn)行測量。AFM5300E還具有高低溫控制功能，可以檢測溫度對樣品表面形貌和物理特性的影響。
| 分辨率 | 原子相 |
|---|---|
| 樣品尺寸 | 20 mmφ、厚度10 mm (用配件厚度擴(kuò)展至20 mm) |
| 樣品移動范圍 | X-Y stage 5 mm |
| 掃描范圍 | 標(biāo)準(zhǔn)： 20 µm□/1.5 µmH • 150 µm□/5 µmH • 15 µm□/1.5 µmH（閉環(huán)差控制） 定位顯微鏡 • 簡易顯微鏡（×200倍） • 光學(xué)顯微鏡（×1000倍） • 變焦顯微鏡（×700倍） • 金相顯微鏡（裝有微分干渉）（×2000倍） |
| 檢測功能 |
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